WWW.DISS.SELUK.RU

БЕСПЛАТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ БИБЛИОТЕКА
(Авторефераты, диссертации, методички, учебные программы, монографии)

 

КАЗАНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ

"УТВЕРЖДАЮ"

Проректор В.С.Бухмин

ПРОГРАММА ДИСЦИПЛИНЫ

Физика поверхности и тонких пленок

Цикл ДС

ГСЭ - общие гуманитарные и социально-экономические дисциплины; ЕН - общие

математические и естественнонаучные дисциплины; ОПД - общепрофессиональные дисциплины; ДС - дисциплины специализации; ФТД - факультативы.

Специальность: 010400 – Физика (Номер специальности) (Название специальности) Принята на заседании кафедры физики твёрдого тела (Название кафедры) (протокол № 7 от "17" сентября 2009 г.) Заведующий кафедрой (Л.Р.Тагиров) Утверждена Учебно-методической комиссией физического факультета (Название факультета) КГУ (протокол №_ от ""200 г.) Председатель комиссии (Д.А. Таюрский) Методические указания (пояснительная записка) Рабочая программа дисциплины "Физика поверхности и тонких пленок" Предназначена для студентов 4 курса, по специальности: 010400 – Физика (Номер специальности) (Название специальности) АВТОР: В.Ю. Петухов

КРАТКАЯ АННОТАЦИЯ:

Лекционный курс включает физические представления о поверхностных электронных состояниях, о характере абсорбции и взаимодействия быстрых частиц с поверхностью. Изложена техника получения тонких пленок и модификации поверхности с помощью традиционных вакуумно-термических, а также современных ионно-лучевых и ионно-плазменных методов. Рассмотрены основные современные методы исследования поверхности. Лекционный курс сопровождается лабораторным практикумом по получению тонких пленок и изучению их свойств.

1. Требования к уровню подготовки студента, завершившего изучение дисциплины «Физика поверхности и тонких пленок»

(Наименование дисциплины) Студенты, завершившие изучение данной дисциплины должны:

обладать теоретическими знаниями об электронной структуре поверхности, физической и химической адсорбции и о физике взаимодействия быстрых частиц с поверхностью;

обладать знаниями о лучевых методах получения и модификации поверхностных свойств тонких пленок и наноструктур;

иметь представление о современных методах исследования тонких пленок. Получить навыки работы на современных установках по получению тонких пленок и модификации их свойств, а также современных приборах по исследованию поверхности и тонких пленок.





2. Объем дисциплины и виды учебной работы (в часах) Форма обучения очная очная, заочная, вечерняя Количество семестров Форма контроля: 8 семестр экзамен зачет, экзамен Количество часов № Виды учебных занятий п/п семестр 1. Всего часов по дисциплине Самостоятельная работа 2.

Аудиторных занятий 3.

в том числе: лекций семинарских (или лабораторно- практических) занятий

ТРЕБОВАНИЯ ГОСУДАРСТВЕННОГО ОБРАЗОВАТЕЛЬНОГО

СТАНДАРТА К ОБЯЗАТЕЛЬНОМУ МИНИМУМУ СОДЕРЖАНИЯ

ПРОГРАММЫ

ДС Примечание: если дисциплина устанавливается вузом самостоятельно, то в данной таблице ставится прочерк.

СОДЕРЖАНИЕ РАЗДЕЛОВ ДИСЦИПЛИНЫ

используемые в физике и химии поверхности адсорбция.

Поверхностные состояния Тамма и Шокли. Изгиб зон и пиннинг уровня Ферми вблизи поверхности полупроводников. Физическая и химическая адсорбция.

Электрохимический потенциал.

Основные экспериментальные методы измерения работы выхода.

Название темы и ее содержание Роль диссоциативной хемосорбции и молекулярной физической адсорбции в гетерогоенном катализе. Методы исследования каталитических реакций на поверхности.

5 Введение в радиационную физику. Ионизирующее излучение.

Воздействие радиации на свойства модификации физических свойств приповерхностных слоев.

Эффекты и явления, сопровождающие ионную бомбардировку (радиационное дефектообразование, вакансионное распухание, ионное распыление, ионно-стимулированная диффузия и Процессы зарождения и механизмы роста новой фазы. Основные закономерности ИЛС. Особенности и отличия ИЛС от традиционных методов получения тонких пленок.

Некоторые примеры ИЛС.

8 Ионно-стимулированное осаждение. Двухлучевой метод (схема с двумя ионными источниками).

9 Электронно-лучевое осаждение. Процессы, происходящие при бомбардировке вещества электронами.

Термическая и нетермическая электронно-лучевая обработка.

Название темы и ее содержание 10 Молекулярно-лучевая эпитаксия. Схемы основных методов кристаллизации при МЛЭ.

плазменного напыления тонких пленок.

Способы получения низкотемпературной плазмы.

Реактивное ионно-плазменное осаждение.

дифракция электронов.

Симметрия поверхности и описание ее структуры. Методы структурнофазового анализа. Рентгеновская дифракция. Определение структуры поверхности с помощью дифракции медленных электронов и дифракции быстрых электронов.

Обратное резерфордовское рассеяние, Оже-электронная спектроскопия, вторичная ионная масс-спектрометрия, рентгеновский флюоресцентный анализ.

свойств.

Магнитная радиоспектроскопия (ЭПР, ФМР), магнитооптические методы (эффекты Фарадея и Керра).

методы исследования поверхности.

Растровая и просвечивающая электронная микроскопия. Техника поперечного среза. Полевая микроскопия.

Название темы и ее содержание электронной спектроскопии.





Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.

микроскопия (СТМ) и спектроскопия (СТС) для изучения поверхности на атомарном и молекулярном уровне.

Основные принципы работы СТМ, получение атомарного разрешения.

Метод вольт-амперных характеристик при изучении электронной структуры поверхности. Использование СТМ для нанолитографии.

(ССМ) - новый метод исследования физических и химических свойств поверхности в нанометровом масштабе.

Магнитно-силовая микроскопия.

Примечание: программа содержит подробную характеристику содержания темы. Название, количество тем в программе, количество часов на каждую тему определяется согласно Государственному образовательному стандарту по специальности.

ПЕРЕЧЕНЬ РАБОТ ЛАБОРАТОРНОГО СПЕЦПРАКТИКУМА

«Получение тонких пленок ионно-лучевыми методами I. Методы получения тонких пленок 1. Ионно-лучевой синтез наноструктурированных слоев.

2. Получение тонких пленок методом магнетронного напыления на постоянном токе.

3. Нанесение магнитных пленок на диэлектрические материалы методом ВЧ магнетронного напыления.

II. Методы исследования тонких пленок и поверхности 4. ЭПР в наноструктурированных материалах.

5. Исследование тонких ферромагнитных пленок методом ФМР.

6. Исследование ионно-имплантированных слоев методом поперечного среза (“cross-section”) в просвечивающей электронной микроскопии.

7. Методы сканирующей зондовой микроскопии поверхности твердых тел (атомно-силовая и туннельная микроскопия).

8. Рентгеноструктурный анализ тонких пленок методом скользящих

ОСНОВНАЯ ЛИТЕРАТУРА

1. Оура К., Лифшиц В.Г., Саранин А.А., Зотов А.В., Катаяма М.

Введение в физику поверхности. М.: Наука, 2006. – 490 с.

2. А.И. Гусев. Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнология. М.:

ФИЗМАТЛИТ, 2005.- 416 с.

3. Зенгуил Э. Физика поверхности. М.: Мир,1990. – 536 с.

4. Ф. Фельдман, Д. Майер. Основы анализа поверхности и тонких пленок. М.: Мир,1989. – 342 с.

5. Моррисон С. Химическая физика поверхности твердого тела.

М.: Мир, 1989. – 488 с.

6. Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками / Под ред. Дж. Поута.- М.:

Машиностроение, 1987. – 424 с.

7. И.А. Аброян, А.Н. Андронов, А.И. Титов. Физические основы электронной и ионной технологии.- М.: Высшая школа, 1984.- 320 с.

8. Д. Вудраф, Т. Делчар. Современные методы исследования поверхности.- М.: Мир, 1989.- 564с.

9. Х. Риссел, И.Руге. Ионная имплантация.- М.: Наука, 1983. – 360 с.

10. Тонкие пленки. Взаимная диффузия и реакции/ Под ред. Дж. Поута, К. Ту, Дж. Мейера.- М.: Мир, 1982.- 576 с.

11. Я.С. Уманский и др. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия.- М.: Металлургия, 1982.- 632с.

ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ ЛИТЕРАТУРА

1. А.А. Бухараев, Д.В. Овчинников, А.А. Бухараева "Диагностика поверхности с помощью сканирующей силовой микроскопии (обзор)" // Заводская лаборатория, 1997, № 5. с. 10-27.

2. Кузьмичев А. Магнетронные распылительные системы. Книга 1.

Введение в физику и технику магнетронного распыления. М.: Аверс, 3. Крапухин В.В., Соколов И.А., Кузнецов Г.Д. Технология материалов электронной техники – М.: МИСИС, 1995. - 493 с.

4. Г.Ф. Ивановский, В.И. Петров. Ионно-плазменная обработка материалов.- М.: Радио и связь, 1986.- 232 с.

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЕ БИЛЕТЫ

1. Физическая и химическая адсорбция.

2. Методы структурно-фазового анализа.

1. Электронная структура поверхности и адсорбция.

2. Методы магнетронного и ионно-плазменного напыления тонких пленок.

1. Поверхностные состояния Тамма и Шокли.

2. Ионное легирование полупроводников. Применение ионной имплантации для создания приборов микроэлектроники.

1. Адсорбция и катализ.

2. Эффекты при радиационном воздействии на твердые тела.

1. Ионизирующее излучение. Ядерное и электронное торможение ионов.

2. Сканирующая туннельная микроскопия.

1. Профили распределения примеси при ионной имплантации.

2. Основные принципы работы атомно-силового микроскопа.

1. Радиационные дефекты в твердых телах.

2. Метод вольт-амперных характеристик при изучении электронной структуры поверхности.

1. Радиационное распухание (свеллинг). Блистеринг.

2. Сканирующая силовая микроскопия.

1. Ионно-лучевой синтез. Основные закономерности и особенности 2. Нанолитография с помощью АСМ 1. Ионно-стимулированное осаждение.

2. Нанометрология с помощью АСМ, эффекты свертки, реконструкция поверхности по АСМ-изображению.

1. Термическая и нетермическая электронно-лучевая обработка.

2. Исследование поверхности методами электронной спектроскопии.

1. Молекулярно-лучевая эпитаксия.

2. Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия.

1. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия 2. Отжиг радиационных нарушений.

1. Работа выхода и методы ее измерения.

2. Методы элементного анализа тонких пленок.

1. Роль диссоциативной хемосорбции и молекулярной физической адсорбции в гетерогенном катализе.

2. Магнитные и магнито-оптические методы исследования тонких пленок.

1. Методы исследования каталитических реакций на поверхности.

2. Кристаллография поверхности и дифракция электронов.



 
Похожие работы:

«Федеральное агентство по сельскому хозяйству Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Мичуринский государственный аграрный университет Кафедра математики и физики Методические указания по изучению дисциплины Агрометеорология и выполнению контрольной работы для студентов – дистанционного обучения 2 курса по специальностям: 110201 – Агрономия, 110102 – Агроэкология, 110202 – Плодоовощеводство и виноградарство, и 4 курса по специальности 110305 –...»

«Учреждение образования БЕЛОРУССКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ И. М. Борковская, О. Н. Пыжкова УРАВНЕНИЯ МАТЕМАТИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ Рекомендовано Учебно-методическим объединением высших учебных заведений Республики Беларусь по химико-технологическому образованию в качестве учебно-методического пособия для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности 1-53 01 01 Автоматизация технологических процессов и производств Минск 2010 3 ПРЕДИСЛОВИЕ Настоящее...»

«ИНСТИТУТ ПРИКЛАДНОЙ МАТЕМАТИКИ ИМ. М.В.КЕЛДЫША РАН МОСКОВСКИЙ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ Методическое пособие к курсу МЕТОДЫ НАВИГАЦИИ В УСЛОВИЯХ НЕОПРЕДЕЛЕННОСТИ (второй семестр) Профессор А.К.Платонов Аспирант Д.С. Иванов Москва 2013 г. Пособие разработано в процессе чтения лекций на кафедре МФТИ Прикладная математика по специализации Управление динамическими системами, направленных на подготовку студентов-магистров. Цель курса – освоение студентами фундаментальных знаний в области...»

«МОСКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ им. М.В. ЛОМОНОСОВА Факультет вычислительной математики и кибернетики ПРАКТИЧЕСКИЕ ЗАНЯТИЯ ПО ФИЗИКЕ ДЛЯ СТУДЕНТОВМАТЕМАТИКОВ Под редакцией профессора В.А. Макарова ЧАСТЬ III Н.В. Нетребко, И.П. Николаев, М.С. Полякова, В.И. Шмальгаузен ЭЛЕКТРИЧЕСТВО И МАГНЕТИЗМ МОСКВА 2006 УДК 530.1 (075.8) ББК 22.2 Н62 Печатается по решению Редакционно-издательского совета Факультета вычислительной математики и кибернетики Московского государственного университета им....»

«А. В. Анкилов, П. А. Вельмисов, А. С. Семёнов АЛГ ОР ИТ МЫ МЕ Т О Д О В ВЗВЕ Ш Е ННЫ Х НЕВЯЗОК ДЛЯ РЕШЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ ЗАДАЧ МАТЕМАТИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ И ИХ РЕАЛИЗАЦИЯ В СИСТЕМЕ MATHCAD Учебное пособие Ульяновск 2006 УДК 519.6 (075) ББК 22.311 я7 A 67 Рецензенты: Кафедра прикладной математики Ульяновского государственного университета (зав. кафедрой доктор физико-математических наук, профессор А. А. Бутов); Доктор физико-математических наук, проф. УлГУ В. Л. Леонтьев. Утверждено...»

«ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования ТОМСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ Кафедра теоретической и экспериментальной физики УТВЕРЖДАЮ Декан ЕНМФ ИЗУЧЕНИЕ ТЕМПЕРАТУРНОЙ ЗАВИСИМОСТИ СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВ И ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЭНЕРГИИ АКТИВАЦИИ ПРОВОДИМОСТИ Методические указания к выполнению лабораторной работы Э-09 по курсу Общей физики для студентов всех специальностей Томск 2005 УДК 53.01 Изучение температурной...»

«ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования ТОМСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ УТВЕРЖДАЮ Декан ЕНМФ _Ю.И. Тюрин ОПРЕДЕЛЕНИЕ КОНЦЕНТРАЦИИ И ПОДВИЖНОСТИ ОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ Методические указания к выполнению лабораторной работы Э-12а по курсу Общая физика для студентов всех специальностей Издательство Томского политехнического университета 2008 УДК 53.01 Определение концентрации и подвижности...»

«ПРИОРИТЕТНЫЙ НАЦИОНАЛЬНЫЙ ПРОЕКТ ОБРАЗОВАНИЕ РОССИЙСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ДРУЖБЫ НАРОДОВ Л.Е. РОССОВСКИЙ, Е.М. ВАРФОЛОМЕЕВ ФУНКЦИОНАЛЬНО-ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЕ УРАВНЕНИЯ И ИХ ПРИЛОЖЕНИЯ К ИССЛЕДОВАНИЮ НЕЙРОННЫХ СЕТЕЙ И ПЕРЕДАЧИ ИНФОРМАЦИИ НЕЛИНЕЙНЫМИ ЛАЗЕРНЫМИ СИСТЕМАМИ С ОБРАТНОЙ СВЯЗЬЮ Учебное пособие Москва 2008 Инновационная образовательная программа Российского университета дружбы народов Создание комплекса инновационных образовательных программ и формирование инновационной образовательной среды,...»

«Бюллетени новых поступлений – Ноябрь 2013 г. 1 В1 Стойлова Любовь Петровна. С 81 Математика: учебник для образов. учреждений, реализующих образов. прогр. высшего проф. образования (дисцип. Мат. по направ. 050100 Пед. образование, профиль подгот. Начал. образование) / Стойлова Любовь Петровна. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва: Academia, 2012. - 464с.: ил. - (Высшее профессиональное образование. Педагогическое образование). - (Бакалавриат). - (Учебник). - ISBN 978-5в пер.) : 696-15р. 2 В 11...»

«Московский Государственный Университет им. М.В.Ломоносова Химический факультет Кафедра физической химии А.А. Кубасов Химическая кинетика и катализ. Часть 2. Теоретические основы химической кинетики Допущено Советом по химии УМО по классическому университетскому образованию в качестве учебного пособия для студентов химических факультетов университетов, обучающихся по специальности 011000 – Химия и направлению 510500 - Химия Москва 2005 г. Рецензент: доктор химических наук, ведущий научный...»

«Министерство образования и науки Российской Федерации Сыктывкарский лесной институт (филиал) федерального государственного бюджетного образовательного учреждения высшего профессионального образования Санкт-Петербургский государственный лесотехнический университет имени С. М. Кирова Кафедра целлюлозно-бумажного производства, лесохимии и промышленной экологии АНАЛИТИЧЕСКАЯ ХИМИЯ И ФИЗИКОХИМИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА Учебно-методический комплекс по дисциплине для подготовки дипломированного...»

«ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКОЕ ПОСОБИЕ ДЛЯ САМОСТОЯТЕЛЬНОЙ ПОДГОТОВКИ СТУДЕНТОВ К КУРСУ БИОФИЗИКА Составители: Башарина О.В., Артюхов В.Г. ВОРОНЕЖ 2007 2 Утверждено Научно-методическим советом фармацевтического факультета 30.05. 2007 г. (протокол № 5). Учебно-методическое пособие для самостоятельной подготовки студентов к занятиям по биофизике подготовлено на кафедре биофизики и биотехнологии биолого-почвенного факультета Воронежского государственного университета....»

«МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РФ Государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Тверской государственный университет УТВЕРЖДАЮ Декан биологического факультета _ С.М. Дементьева 2012 г. УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКИЙ КОМПЛЕКС ПО ДИСЦИПЛИНЕ ОЦЕНКА ВОЗДЕЙСТВИЯ НА ОКРУЖАЮЩУЮ СРЕДУ Для студентов 4 курса очной формы обучения специальность 020803.65 БИОЭКОЛОГИЯ Обсуждено на заседании кафедры экологии Составитель: _ _ 2012г. Протокол №_ _ К.Ю.Толстых Зав. кафедрой...»

«ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ НОВОСИБИРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИНСТИТУТ ФИЛОСОФИИ И ПРАВА СО РАН Философский факультет Кафедра гносеологии и истории философии М. Н. Вольф СРЕДНЕВЕКОВАЯ АРАБСКАЯ ФИЛОСОФИЯ: АШАРИТСКИЙ КАЛАМ Учебное пособие Новосибирск 2008 ОГЛАВЛЕНИЕ ПРЕДИСЛОВИЕ..4 ГЛАВА I. АШАРИЗМ КАК ВТОРОЕ НАПРАВЛЕНИЕ КАЛАМА. КУЛЬТУРНЫЙ ФОН РАЗВИТИЯ АШАРИЗМА.6 § 1. Неблагоприятные для мутазилитов условия. Оппозиционные учения: ханбалиты и захириты.. § 2. Ал-Тахави (Египет) и...»

«Кафедра физики полупроводников А.В. Бурмистров Проектирование баз данных в MS Access МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ К ПРАКТИЧЕСКИМ ЗАНЯТИЯМ ПО ДИСЦИПЛИНЕ СИСТЕМЫ УПРАВЛЕНИЯ БАЗАМИ ДАННЫХ Саратов 2012 Содержание 1. Лабораторная работа № 1 3 2. Лабораторная работа № 2 7 3. Лабораторная работа № 3 12 4. Лабораторная работа № 4 14 5. Лабораторная работа № 5 17 6. Лабораторная работа № 6 24 7. Литература 27 Лабораторная работа № 1 1. Построить базу данных, основанную на двух таблицах. Пусть одна таблица...»

«МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования НАЦИОНАЛЬНЫЙ МИНЕРАЛЬНО-СЫРЬЕВОЙ УНИВЕРСИТЕТ ГОРНЫЙ УТВЕРЖДАЮ Проректор по научной работе профессор В.Л. ТРУШКО ПРОГРАММА ВСТУПИТЕЛЬНОГО ИСПЫТАНИЯ ПО СПЕЦИАЛЬНОЙ ДИСЦИПЛИНЕ ГОРНОПРОМЫШЛЕННАЯ И НЕФТЕГАЗОПРОМЫСЛОВАЯ ГЕОЛОГИЯ, ГЕОФИЗИКА, МАРКШЕЙДЕРСКОЕ ДЕЛО И ГЕОМЕТРИЯ НЕДР, соответствующей направленности (профилю) направления подготовки...»

«Л.С. Атанасян, В.Т. Базылев Геометрия в двух частях Допущено Министерством образования и науки РФ   в качестве учебного пособия   для студентов физико-математических факультетов   педагогических вузов часть 2 Второе издание, стереотипное УДК 514.1(075.8) ББК 22.151.1я73 А92 Рецензент: Л.Е. Евтушик, д-р физ.-мат. наук, В.И. Близникас, проф. Атанасян Л.С. А92 Геометрия: в 2 ч. — Ч. 2 : учебное пособие / Л.С. Атанасян, В.Т. Базылев. — 2-е изд., стер. — М. : КНОРУС, 2011. — 424 с....»

«БЕЛОРУССКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ФАКУЛЬТЕТ РАДИОФИЗИКИ И ЭЛЕКТРОНИКИ Кафедра системного анализа Аппаратнопрограммные методы и средства защиты информации Учебное пособие по специальным курсам “Защита информации” и “Системы защиты и контроля доступа к информационным ресурсам” Для студентов факультета радиофизики и электроники специальностей 1 31 04 02 “Радиофизика” и 1 31 04 03 “Физическая электроника” МИНСК БГУ 2008 УДК 004.3, 004.4(003.26) ББК А91 Рекомендовано Ученым советом факультета...»

«МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ К КОНТРОЛЬНЫМ ЗАДАНИЯМ ПО ФИЗИКЕ ДЛЯ СТУДЕНТОВ-ЗАОЧНИКОВ ИНЖЕНЕРНО-ЭКОНОМИЧЕСКИХ СПЕЦИАЛЬНОСТЕЙ Министерство образования РФ Сибирская государственная автомобильно-дорожная академия (СибАДИ) Кафедра физики МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ К КОНТРОЛЬНЫМ ЗАДАНИЯМ ПО ФИЗИКЕ ДЛЯ СТУДЕНТОВ-ЗАОЧНИКОВ ИНЖЕНЕРНО-ЭКОНОМИЧЕСКИХ СПЕЦИАЛЬНОСТЕЙ Составители Л.Г.Туренко, М.В.Пластинина Омск Издательство СибАДИ УДК 53:621. ББК 22. Рецензент д-р физ.-мат. наук, профессор ОмГИС В.В.Пластинин Работа...»

«www.ReshuZadachi.ru задачи решают тут Учреждение образования БЕЛОРУССКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ Кафедра аналитической химии АНАЛИТИЧЕСКАЯ ХИМИЯ Программа, методические указания и контрольные задания по дисциплинам Аналитическая химия, Аналитическая химия и физико-химические методы анализа для студентов химикотехнологических специальностей заочной формы обучения Минск 2012 1 www.ReshuZadachi.ru задачи решают тут УДК 543(075.4) ББК 24.4я А Рассмотрены и рекомендованы к...»






 
© 2013 www.diss.seluk.ru - «Бесплатная электронная библиотека - Авторефераты, Диссертации, Монографии, Методички, учебные программы»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.